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簡要描述：BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-09-03訪 問 量： 5267詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
| 最小樣品量 | 40 μL |
| 檢測角度 | 173 ° + 11.2° |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測試
| Zeta范圍 | 無實際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | ＞±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – ＞120 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃? |
趨勢測試
| 模式 | 時間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
| 相關(guān)器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍 |
| 檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
● 絕對分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
● 動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險。
● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
● 0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。
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