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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
Zeta電位儀廠家供應(yīng)的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
BeNano90納米粒度分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過(guò)激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在 90°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng)，再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相關(guān)曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程得到樣品的粒度分布結(jié)果。
BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
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