激光粒度儀包括自由分布、R-R分布和對數正態分布、按目分級統計模式等，滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求,體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式,可針對多條測試結果進行統計比較分析，激光粒度儀可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業原料質量控制具有很強的實際意義,用戶自定義分析參數，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比，激光粒度儀以滿足不同行業對粒度測試的表征方式,中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。
激光粒度儀由激光器(一般為He-Ne激光器或半導體激光器)發出的光束。經空間濾波器和擴束透鏡后，得到了一個平行單色光束，該光束照射到由分散系統傳輸過來的顆粒樣品后發生散射現象。研究表明，激光粒度儀散射光的角度和顆粒直徑成反比，散射光強隨角度的增加呈對數衰減。這些散射光經傅立葉透鏡后成像在排列有多環光電探測器的焦平面上。多環探測器上的中央探測器用來測定樣品的體積濃度，外圍探測器用來接收散射光的能量并轉換成電信號，而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關。激光粒度儀通過接收和測量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
激光粒度儀是鈦白粉碳酸鈣等粉末涂料粒度測試的*選擇，使用中首先應該考慮的就是動態范圍的問題，這就關系到同時測量的zui大粒徑與zui小粒徑的比值問題，激光粒度儀當動態范圍越大，使用越方便，測試寬分布樣品的能力越強，而且一個樣品的測試全過程一般只需兩、三分鐘，速度是非?？斓?，操作也非常方便，對環境要求也不高。
激光粒度儀理論分析認為，當顆粒與波長相比大很多時，Fraunhofer衍射模型本身有較高的性，可看作是Mie散射的一種近似。由于Mie理論計算復雜和計算機不易執行，早期的激光粒度儀一般都工作于Fraunhofer衍射原理，隨著科學技術和計算機的發展，儀器制造商先是在亞微米范圍內采用Mie理論，后來又在全范圍內采用，稱為“全Mie理論”。激光粒度儀原先以為大顆粒的測量可以使用Fraunhofer衍射理論，但是置于光場中的大顆粒除了具有衍射作用外，還有由幾何光學的反射和折射引起的幾何散射作用，后者就強度而言遠小于前者，但總的能量不相上下。激光粒度儀用衍射理論計算光能分布顯然忽視了幾何散射，因而有較大誤差，而Mie散射理論是描述顆粒光散射的嚴格理論。有關專家認為，對非吸收性顆粒，用Fraunhofer衍射理論分析散射光能時，將會“無中生有”地認為在儀器的測量下限附近有小顆粒峰(如果儀器可以進行多峰分析)。通過Fraunhofer衍射和嚴格Mie散射的數值計算結果的對比指出，Fraunhofer衍射適用的條件為：激光粒度儀測量下限大于3μm，或被測顆粒是吸收型且粒徑大于1μm的。當儀器測量下限小于1μm，或者用測量下限小于3μm的儀器去測量遠大于1μm的顆粒時，都應該采用Mie理論。另外，顆粒的折射率對測量結果也有較大的影響。對吸收性顆粒而言，Fraunhofer衍射結果同Mie散射結果基本一致。激光粒度儀而對于非吸收性顆粒，兩者就有一定的偏差。文獻認為，當顆粒的相對折射率的虛部η<0.03或η>3時，必須用Mie理論來計算系數矩陣。
激光粒度儀全程采用MIE光散射原理、會聚光傅立葉變換光路，以及高穩定性的He-Ne激光光源與高靈敏度環式光電探測器保證了測試結果的重復性與準確性。全內置的循環系統配合超聲分散以及機械攪拌，激光粒度儀*解決了大顆粒在管道中沉積的問題，的軟件無約束自由擬合技術與強大的數據處理系統相結合，保證了測試的真實準確。
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