干法激光粒度儀當光線通過不均勻介質時，會發生偏離其直線傳播方向的散射現象，它是由吸收、反射、折射、透射和衍射的共同作用引起的。散射光形式中包含有散射體大小、形狀、結構以及成分、組成和濃度等信息。因此，利用干法激光粒度儀
光散射技術可以測量顆粒群的濃度分布與折射率大小，還可以測量顆粒群的尺寸分布。 選購干法激光粒度儀的*要素是測試結果的準確性和重復性：現在市面上的干法激光粒度儀它們的性能和質量參差不齊。先不不談做工好壞，影響干法激光粒度儀性能的主要因素有：儀器的硬件設計是否合理；儀器的軟件算法是否準確；儀器的理論基礎是否先進。不過，想要真正了解某一臺干法激光粒度儀的測試準確性和重復性，zui直接的方法還是用樣品進行測試比較，所以說我們建議：在選購干法激光粒度儀之前，首先要對樣品進行實際測試。
根據被測試顆粒的性質特點選購相應的干法激光粒度儀：干法激光粒度儀一般來說根據分散介質的不同可分為干法和濕法兩種。干法測量的顆粒種類較多，但是測試量程不如濕法大，而且價格也要昂貴的多，所以首先弄清楚顆粒的性質再選擇相應的儀器種類是*必要的。
綜合考慮性價比，選擇zui合適的干法激光粒度儀：從整體水平來說，國外的干法激光粒度儀性能優于國內，但價格也要高出數倍，同時，要說明的是：國內測試水平的不足其實于在納米級顆粒，在0.1微米以上的顆粒測試中，國內的產品比國外的產品毫不猻色。因此，如果您需要測試的顆粒級數在0.1微米以上，選擇性能*的國產品不失為明智之舉。
干法激光粒度儀由激光器(一般為He-Ne激光器或半導體激光器)發出的光束。經空間濾波器和擴束透鏡后，得到了一個平行單色光束，該光束照射到由分散系統傳輸過來的顆粒樣品后發生散射現象。研究表明，干法激光粒度儀散射光的角度和顆粒直徑成反比，散射光強隨角度的增加呈對數衰減。這些散射光經傅立葉透鏡后成像在排列有多環光電探測器的焦平面上。干法激光粒度儀多環探測器上的中央探測器用來測定樣品的體積濃度，外圍探測器用來接收散射光的能量并轉換成電信號，而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關。干法激光粒度儀通過接收和測量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
干法激光粒度儀主要依據Fraunhofer 衍射和Mie散射兩種光學理論。下面就干法激光粒度儀散射理論的發展歷史作簡要闡述：
散射理論的研究開始于上一世紀的70年代。1871年，瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律，并用干法激光粒度儀電子論的觀點解釋了光散射的本質[ 1 ]。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長小。1908年，米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程，解出了一個關于干法激光粒度儀光散射的嚴格數學解，得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規律，這就是的米氏理論[ 2 ]。1957年， H. C. Van de Hulst 出版了關于干法激光粒度儀現象的專著，總結了粒子散射的普遍規律，受到科技界人士的廣泛注意，這本專著被認為是光散射理論領域的經典文獻 [3]。1969年，M . Kerker 系統論述了光及電磁波散射的一般規律，為干法激光粒度儀散射理論的進一步發展做出了貢獻[ 4 ]。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man綜合前人的成果，又發表了關于干法激光粒度儀吸收的一般規律，更全面地解釋了光的各種散射現象[ 5 ]。至此，散射理論的體系建立起來了。
1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時( d為散射粒子的直徑，λ為光波波長)的近似式 ——夫瑯和費(Franhofer)衍射理論發展了干法激光粒度儀[ 6 ]，開辟了散射理論在計量測試中的又一新領域。由于光散射法適用范圍寬，測量時不受顆粒光學特性及電學特性參數的影響，因此在隨后的三十年時間內已成為粒度計量中zui為重要的方式之一。
但是不管再怎么出色的儀器，也離不開售后服務，因為干法激光粒度儀是高科技精密儀器，為保證其測試精度，定期的維護*，在沒有良好售后服務的廠家購買產品，使用時毫無保障，儀器一旦出現故障，廠家逃避責任、推委搪塞。儀器故障無法及時排除，影響正常使用，給您造成損失，所以我們提醒您，請到有實力、有信譽的廠家購買干法激光粒度儀，以避免后顧之憂，所以的售后服務是干法激光粒度儀正常使用的保障。
歡迎來到丹東百特儀器有限公司網站！
