干法激光粒度儀，適用于0.05-700微米的寬分布粉狀物料粒度分布的測定，測試速度快、分辨率高、超聲時間和攪拌速度可調、循環測試，配以顆粒分析專家軟件，具有強大的數據處理功能，可用于工廠化驗室、高等院校和研究室質量控制、產品檢驗、科學研究、新品開發。Winner2005激光粒度分析儀必須與計算機聯機使用，主機與計算機可以通過標準串行口或USB口實現雙向通訊。
干法激光粒度儀過程控制系統,作為主要的粒度分析方式已經有20多年了，隨著生產的發展，越來越多的實際工藝過程需要實時掌控和了解具體的生產狀況，這就要求干法激光粒度儀粒度檢測能夠在生產線上實時給出測試結果和提供反饋信號，來控制生產線上相關設備的運行，達到工業控制*自動化。
干法激光粒度儀特點：
·特殊設計的取樣系統TWISTER，可在整個橫截面上連續取樣，確保取到具有代表性的樣品；干法激光粒度儀內置RODOS干法分散系統，能將物料*分散成單個顆粒；采用同實驗室激光粒度儀相同的光學元器件，全自動背景測試，確保獲得高精度的測試結果，和實驗室測試結果有很好的可比性；測試結果的信號及時反饋到控制系統，實現閉環控制；根據不同的過程控制方式分為：in-line系統、on-line系統和at-line系統。
干法激光粒度儀in-line系統的特點：
取樣系統和分散測試系統全部安裝在工業生產管道中，保證取樣的代表性和測試結果不受外界環境的任何干擾，隨時了解生產狀況和生產工藝控制；
干法激光粒度儀on-line系統的特點：
取樣在管道中自動進行，物料輸送到一旁的分散測試系統中，一個測試系統可以控制多條管道上的生產過程分析。在保證分析精度的前提下，大幅度提高設備和資金的利用率。
干法激光粒度儀at-line系統的特點：
通過機械手將樣品從生產線上取出，送到進樣器中，自動完成樣品的測試，*實現智能化操作，減少人為取樣誤差。
干法激光粒度儀在線激光粒度儀采用的會聚光傅立葉變換光路，克服了透鏡孔徑對散射角的限制，采用樣品池，增加側向及后向光電探測器的方式對各個方位的散射（前向、側向以及后向）光信息進行全面的采集，而有效地提高了對納米及亞微米顆粒的測試準確度；并且干法激光粒度儀采用無約束自由擬合反演軟件，對任意分布的顆粒群均給出真實的分析結果，對生產線上的樣品均可以做到實時給出分析數據，方便對生產流程進行控制，大大提高了儀器的實用性。
干法激光粒度儀在氣體激光器(L)發出的激光經擴束(S)濾波(F)成為發散的找而波照射在變換誘鏡(F T)上, 然后會聚在光電探測器(D)的中心, 由于被測物體(P)是準球形的顆粒。因而探測器陣列為同心環狀。流動樣品池置于干法激光粒度儀透鏡之后, 且位置沿導軌方向可調。整個光路的特點是：
(1)球面波系統和激尤器轉置, 光路長度壓縮1/2，使得干法激光粒度儀小型化, 便攜式成為可能。
(2)干法激光粒度儀透鏡孔徑不再成為限制散射光的主要因素, 因而可以大大縮小其有效孔徑。
(3)樣品池后置, 可以盡量接近探測器陣列, 大大提高了干法激光粒度儀可測的空間, 因而系統可分辨的zui小粒徑達列0. 1um。
(4)樣品池在鏡頭與探惻器咕列之間可連續移動, 相當于在保持信息處理能力不變的前提下連續改變系統的等效焦距, 使得干法激光粒度儀不換透鏡改變量程成為可能。
(5)探測器陣列的單元數目一定, 等效焦距越短測量粒度范圍越窄, 系統對顆粒的分解能力就越高, 本系統在2μm以下可以分解為12個粒度級, 此功能在平面波照明的激光粒度儀是很難實現的。干法激光粒度儀的光路設計、充分體現了信息處理能力(空間帶寬積)在焦平面探測系統研究中的重要地位。
干法激光粒度儀先進的測試原理、*的計算模式以及高超的，使該款儀器具有在線實時監測、測試結果準確、測試重復性好以及測試速度快等突出優點，真正實現了干法激光粒度儀在線、準確、重復、靈敏的結合。
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