百特新一代粒度粒形綜合分析系統集多項技術于一體
更新時間：2019-04-08 點擊次數：2274
Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是激光散射+顯微圖像二合一的粒度粒形分析儀，采用斜入射雙鏡頭技術，測量下限達0.01μm，測量上限達到3500μm，提高了粗顆粒端的測量精度。同時對激光法數據和圖像法數據進行融合，得出更加準確的粒度測試結果，得出粒形分析信息（圓形度、長徑比等）。
新一代粒度粒形分析系統Bettersize3000plus集激光散射技術、顯微圖像技術和折射率測量技術于一體，可測“粒度+粒形+折射率”，是一款的顆粒綜合分析系統，粒度測試范圍達0.01-3500μm，可同時分析球形度、粗糙度、銳度等粒形信息，粒度粒形同時測試，這正是磨料粒度粒形分析所需。相信這一新技術新儀器必定會提升磨料磨具材料粒度粒形分析精度，成為磨料行業節能減排、提質增效的利器。
該儀器還采用了樣品折射率測量技術，對未知折射率的新材料也能得到的粒度測試結果。本儀器采進口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時；采用進口的高精度透鏡組，保證了微弱的、各角度的散射光信號無一漏網；采用進口的高速CCD與高像遠心鏡頭，成像清晰無拖尾現象；采用高速顆粒識別技術，每分鐘可分析幾萬個顆粒數目。總之，該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。
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