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超細化、納米化是現代粉體材料研究和生產的趨勢，為滿足對這些材料的粒度分析，激光粒度儀的測量范圍也向超細化、納米化方向發展，所以現代高性能的激光粒度儀的測量下限已經達到 20nm 甚至 10nm，而樣品折射率（包括收率）是Mie散射求解的一個重要條件，如果折射率錯誤，將導致粒度測試結果錯誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來越多，用常規手段測試這些材料的折射率很困難，這是粒度測試遇到的難題。為解決這個難題，百特研制成功了利用高性能激光粒度儀測量樣品折射率的方法，在粒度測試前先測量折射率和吸收率，保證了對新材料粒度測試的準確性，收到了很好的效果。
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